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本標準規定了用20°角、45°角和60°角測量塑料鏡面光澤的三種方法。
本標準適用于塑料鏡面光澤的測量。其中20°角用于高光澤塑料，45°角主要用于低光澤塑料，60°角 主要用于中光澤塑料。對于鏡面光澤的比較，僅適用于采用同一方法的同種類型的塑料。
2 引用標準
GB 2918 塑料試樣狀態調節和試驗的標準環境
GB 3978 標準照明體及照明觀測條件
3 術語
3.1 鏡面光澤
在規定的入射角下，試樣的鏡面反射率與同一條件下基準面的鏡面反射率之比。用百分數表示，可 以省略百分號，以光澤單位表示。
3.2 鏡面反射率
鏡面反射光通量與入射光通量之比。
4 試驗儀器及對其要求
4.1 本試驗使用鏡面光澤儀，其工作原理見圖1。
圖 1 鏡面光澤儀光路示意圖
1—接收器；2—接收器光闌；3一視見函數修正濾光片；4—接收透鏡；5—入射透鏡； 6—光源光闌；7一聚光透鏡；8—光源光譜修正濾光片；9—光源
4.1.1 幾何條件
4.1.1.1 入射光束光軸和鏡面反射光束光軸位于法線兩側的同一平面內，且與法線構成相等的角度。
4.1.1.2 接收應在鏡面反射方向上。
4.1.1.3 當一塊基準板放在試樣位置時，光源圖象應在接收器光闌的中心形成。
4.1.1.4 光源光闌與接收器光闌的幾何角度及公差應符合表1規定。
表 1 (°)
|
入射角 | 光源光闌 | 接收器光闌 | ||
| 在測量面內 | 在垂直測量面內 | 在測量面內 | 在垂直測量面內 | |
| 20.0±0.1 | 0.75±0.25 | 不 大 于 3 . 0 | 1.80±0.05 | 3.6±0.1 |
| 45.0±0.1 | 1.4士0.4 | 3.0±1.0 | 8.0士0.1 | 10.0±0.2 |
| 60.0±0.1 | 0.75±0.25 | 不 大 于 3 . 0 | 4.4士0.1 | 11.7±0.2 |
4.1.1.5 在4.1.1中規定的立體角內的光束不應有光暈。
4.1.1.6 光源應符合 GB 3978中標準照明體C 或 D.5的光譜條件；接收器的光譜響應應再現標準光效 率函數V(a)。
4.1.2 精度
一光澤單位。
4.1.3 重復性
不大于一光澤單位。
4.1.4 再現性
不大于三光澤單位。
4.2 薄膜試樣的固定裝置
任何薄膜必須固定在能使它保持平展、沒有伸長的此裝置上。
4.2.1 真空板(見圖2):通過橡膠管和真空泵或真空導管相聯，利用閥門限制其真空度，真空度由真空 表測得。
圖 2 薄膜固定用真空板
1一氧化處理平整板；2—O 型環；3—真空底座；4一真空軟管接頭
4.2.2 備有雙面壓敏膠帶的平板(見圖3):為確保試樣拉平，在壓敏膠帶粘住薄膜前不應使薄膜伸長。 當壓敏膠帶失去粘性時，應及時更換。
圖 3 備有雙面壓敏膠帶的薄膜固定用平板
1-雙面壓敏膠帶；2—試樣；3—表面光學平整板
4.3 透明試樣用的背襯
選用烏黑的底板，最好是黑腔，必須放在透明試樣的背后。
4.4 標準板
4.4.1 一級工作標準板
選用高度拋光的平整黑玻璃板。對于20°角和60°角，采用折射率為1.567的黑玻璃板，光澤值規定 為100;對于45°角，采用折射率為1.540的黑玻璃板，光澤值規定為55.9。
4.4.2 二級工作標準板
選用堅硬、平整、表面均勻的陶瓷等，但必須經過符合4.1.1條之鏡面光澤儀的校正。
4.4.3 標準板的使用及維護
標準板須保持清潔，不得損傷其表面。使用時，應拿其邊緣，切勿觸摸表面。清洗時，切忌用毛巾、硬 毛刷或紙等擦抹，應采用一般光學鏡片的清洗液清洗表面。不用時，應放在密封干燥的容器內。此外，標 準板須定期檢驗和重新定標。
5 試樣及其制備
5.1 試 樣 表 面 應 光 滑 平 整 ， 無 臟 物 、 劃 傷 等 缺 陷 。 試 樣 應 在 不 同 部 位 裁 取 ， 其 尺 寸 為 1 0 0 mm×100mm。 試驗中每組試樣應不少于3個。
5.2 試樣狀態調節和試驗環境
按 GB 2918中的常溫、常濕進行。
6 試驗步驟
試驗中必須對鏡面光澤儀進行校正。首先，對一級工作標準板定標，然后，檢驗二級工作標準板的鏡 面光澤。如果二級工作標準板的測量讀數超過其標稱值一個光澤單位，那末，該鏡面光澤儀必須由制造 廠調整后，方能使用。
7 漫射校正
僅在制造廠和用戶協商一致情況下采用。進行此項校正時，入射光束以45°角方向照射試樣，0°角方 向接收。測得的反射值乘以百分因子(表2),即為光澤校正值。
表2
| 方 法 | 百分因子 | |
| 20° | 角 | 0.013 |
| 45° | 角 | 0.055 |
| 60° | 角 | 0.021 |
8 結果的計算和表示
8.1 測量結果以一組試樣的算術平均值表示，精確到0.1光澤單位。
8.2 標準偏差值S 按下式計算：
式中：X—— 每個試樣測定值；
X— 一組試樣測定結果的算術平均值；
n—— 測定的試樣個數。
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